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检查半导体晶片的高度

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检查半导体晶片的高度

Solartron探头可用于检查SMC晶圆的高度,甚至检查各层的厚度。


Solartron探头可用于检查SMC晶圆的高度,甚至检查各层的厚度。


Solartron能够提供易于互连,高精度和高质量的完整的电子元件测量解决方案。



羽毛测头专为要求低尖端力的应用而设计。


使用Orbit数字测量网络将多个传感器组合在一起很容易,并且可以使用Solartron读数器或仪表计算机软件读取数据,从而简化系统集成。