Skip to content
China - Chinese
Search

检查半导体晶片的高度

$name

检查半导体晶片的高度

Solartron探头可用于检查SMC晶圆的高度，甚至检查各层的厚度。

Solartron探头可用于检查SMC晶圆的高度，甚至检查各层的厚度。


Solartron能够提供易于互连，高精度和高质量的完整的电子元件测量解决方案。


羽毛测头专为要求低尖端力的应用而设计。


使用Orbit数字测量网络将多个传感器组合在一起很容易，并且可以使用Solartron读数器或仪表计算机软件读取数据，从而简化系统集成。